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RGB TO大功率抽屉式老化系统

RGB TO大功率抽屉式老化系统

普赛斯大功率TO抽屉式老化系统主要用于大功率激光器在一定温度条件下进行加电老化，老化抽屉可满足不同封装激光器（如TO9，TO56、COS等）的老化需求，一个老化系统最多可装载16个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

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光模块集成式老化系统

光模块集成式老化系统

普赛斯光模块集成式老化系统（PSS MBS12016/22016/32016）用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统提供3~4V恒压以及最高120℃高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过DDM记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。

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老化板配件

老化板配件

老化测试板用于TO的整盘老化、测试，以及自动分选。普赛斯老化测试板，可以兼容后端老化，测试，分选工艺，提高生产效率。

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800G误码仪

800G误码仪

普赛斯800G高速误码测试仪是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪，可支持8x106Gb/s PAM4信号测试，设备包含8路PPG，8路ED收发端信号可同时或者独立工作。 发端包含多级预加重调节模式，可针对PAM4信号进行眼型调节等功能，支持FEC功能KP4 FEC协议，Symbol Errors分析功能。

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400G误码仪

400G误码仪

普赛斯400G高速误码测试系统(PSS BERT19881)是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪，最高支持8x56Gb/s PAM4信号测试，亦可支持10G~28Gb/s NRZ信号测试，设备包含8路PPG，8路ED收发端信号可同时或者独立工作。 发端包含多级预加重调节模式，可针对PAM4信号进行眼型调节等功能，收端包含0~9dB CTLE均衡调节，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能KP4/KR4 FEC协议，Symbol Errors分析，具备SNR监测功能。

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200G误码仪

200G误码仪

普赛斯200G高速误码测试系统(PSS BERT18881)是一款200G高速信号的误码性能分析仪，支持9.95G---15G，24.33G---32G内任意选择速率，8路PPG，8路ED收发端信号可以同时或者独立工作，单路最高支持32G速率。 该系列设备有定时和连续两种检测模式，能够自定义各种不同的速率和测量所需的码型，且对极性、均衡等参数都能够调节，支持任意速率可调，便于研发端性能分析，可广泛应用于100G、200G模块及子系统研发生产等光测试场景。

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100G误码仪

100G误码仪

普赛斯100G高速误码测试系统(PSS BERT17442)是一款100G高速信号的误码性能分析仪，支持10G-32G速率，4路PPG，4路ED收发端信号可以同时或者独立工作，单路最高支持32G速率。该系列设备有定时和连续两种检测模式，能够自定义各种不同的速率和测量所需的码型，且对极性、均衡等参数都能够调节，可广泛应用于100G模块、100G AOC、光器件及子系统研发生产等光测试场景，亦可为高速光收发模块自动化生产测试提供最佳解决方案。

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40G误码仪

40G误码仪

普赛斯40G误码高速仪支持四路622M-15G高速信号的误码性能分析仪。BERT15441主要功能是测量高速通信模块的性能，提供四个可独立工作的最高15G电信号速率，不同通道速率可不一致，针对PON市场应用专业打造。 能够自定义各种不同的速率和测量所需的码型，通过指示灯的闪烁情况可以方便实时地反应检测结果。通过与电脑的串口或选配GPIB、LAN通信，运用电脑界面检测模块的高速性能，并能够对检测结果加以保存。

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15G误码仪

15G误码仪

普赛斯15G误码高速仪支持622M-15G高速信号的误码性能分析仪，BERT13441支持XFP、SFP+光接口及两路电发电收共四路高速信号。 能够自定义各种不同的速率和测量所需的码型，通过指示灯的闪烁情况可以方便实时地反应检测结果。通过与电脑的串口或选配GPIB、LAN通信，运用电脑界面检测模块的高速性能，并能够对检测结果加以保存。

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光功率计

光功率计

普赛斯光功率计采用大面积探测器进行检测，具有重复性好，采样速率快、稳定性好、高分辨率，测量量程大等优点，仪器采用LCD同步显示所有通道测量结果；仪器标配RS232通信接口，可额外选配GPIB接口、以太网络接口，方便自动测试系统中应用，适用各种光功率测试场合。

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BOSA综合测试系统

BOSA综合测试系统

普赛斯采用插卡式组合方案，根据客户需求，灵活配置，解决各种结构复杂的OSA器件的测试问题。既可以实现BOSA器件的快速测试，又可以实现结构复杂的Combo PON器件的一键测试。支持不同封装的 DFB和EML TOSA器件的LIV综合测试，也支持不同速率APD或PINTIA器件的接收灵敏度，响应度，暗电流等指标的测试。模拟器件实际应用环境，并进行内部光路的隔离度和光串扰测试，真实反映器件的性能。

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LIV综合测试仪

LIV综合测试仪

PSS LIV综合测试仪适用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、DML、EML、SOA-EML以及带TEC的碟形器件的温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试，以及光谱特性测试（需要外接光谱仪）。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，体积小、测试速度快、精度高，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

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25G时钟恢复

25G时钟恢复

普赛斯时钟数据恢复是一款高性能、高性价比CDR模块，它可以从光模块或背板等环境数据信号中提取出时钟信号，支持25.78Gbps~28.05Gbps NRZ信号、25.78baud~28.9Gbuad PAM4信号。信号自动锁定，操作简易，支持环路带宽设置,应用于高速率光信号时钟数据恢复，恢复的Clk频率可调，最高支持40分频。

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10G时钟恢复

10G时钟恢复

普赛斯时钟数据恢复是一款高性能、高性价比CDR模块，它可以从光模块或背板等环境数据信号中提取出时钟信号，支持6.5M~11.3Gbps速率信号自动锁定，操作简易，广泛应用于PON、串行环回线路检测及常规多通道光电测试环境。

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