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TO老化板

所属分类:


老化测试板用于TO的整盘老化、测试,以及自动分选。普赛斯老化测试板,可以兼容后端老化,测试,分选工艺,提高生产效率。


  • 应用
  • 特点
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    • 商品名称: TO老化板

    老化测试板用于TO的整盘老化、测试,以及自动分选。普赛斯老化测试板,可以兼容后端老化,测试,分选工艺,提高生产效率。

    产品应用

    • 老化测试板用于TO的整盘老化、测试,以及自动分选。普赛斯老化测试板,可以兼容后端老化,测试,分选工艺,提高生产效率。

  • 功能特点

    • 一盘老化板可以支持最多32/64颗TO的老化、测试
    • 常规设计耐温范围:-40℃~150℃(超过150℃需特殊定制)
    • 老化板带热沉,具有良好的散热,TO位置固定作用,便于TO自动化测试
    • 老化板使用金手指设计,插拔寿命长,耐磨耐用
    • 尺寸与TO完全匹配,TO插拔不张脚
    • 老化座插拔寿命长,正常使用下可达10000次以上
    • 兼容普赛斯的老化和测试设备
    • 可根据客户需求定制

  • 金手指定义

    • LD老化测试板:

     

    LD测试板金手指定义示例

    PAD(LD1)

    A01

    A02

    D01

    D02

    Definition

    PD-

    LD-

    PD+

    LD+

     

     • LD老化测试板:

     

    PD测试板金手指定义示例

    PAD(LD1)

    A01

    A02

    D01

    D02

    Definition

    D+

    VCC

    APD/IMON

    D-

     

     

      • EML老化测试板:

     

    EML测试板金手指定义示例(以CH1为例,CH2-CH32以此类推)

    正面

    1

    2

    3

    4

    Definition

    Rth_GND

    LD-

    Rth

    TEC-

    背面

    131

    132

    133

    134

    Definition

    PD+(SOA)

    LD+

    EA

    TEC+

     

     

    典型封装