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产品应用
• 老化测试板用于TO的整盘老化、测试，以及自动分选。普赛斯老化测试板，可以兼容后端老化，测试，分选工艺，提高生产效率。
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功能特点
• 一盘老化板可以支持最多32/64颗TO的老化、测试
• 常规设计耐温范围：-40℃~150℃（超过150℃需特殊定制）
• 老化板带热沉，具有良好的散热，TO位置固定作用，便于TO自动化测试
• 老化板使用金手指设计，插拔寿命长，耐磨耐用
• 尺寸与TO完全匹配，TO插拔不张脚
• 老化座插拔寿命长，正常使用下可达10000次以上
• 兼容普赛斯的老化和测试设备
• 可根据客户需求定制 -
金手指定义
• LD老化测试板：
LD测试板金手指定义示例
PAD(LD1)
A01
A02
D01
D02
Definition
PD-
LD-
PD+
LD+
• LD老化测试板：
PD测试板金手指定义示例
PAD(LD1)
A01
A02
D01
D02
Definition
D+
VCC
APD/IMON
D-
• EML老化测试板：
EML测试板金手指定义示例（以CH1为例，CH2-CH32以此类推）
正面
1
2
3
4
Definition
Rth_GND
LD-
Rth
TEC-
背面
131
132
133
134
Definition
PD+（SOA）
LD+
EA
TEC+
典型封装
关键词：