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产品应用
• 批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析 -
产品特点
• 提供每路完全独立的驱动电流
• 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化
• 两个独立老化箱体，可以完全独立控制，升温速度效率高，无过冲
• 支持多种算法计算Ith
• 支持热插拔，可靠的ESD/EOS防护，保证器件老化期间的安全
• 支持老化板监控插拔次数在线记录功能
• 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料，提高生产效率 -
参 数
指 标
测试路数
单板64路，左右2个仓，每层24个，共3072路
独立温区数
2个
LD驱动电流
0~250mA
LD正向电压
0~3V
LD监控电流
0~250mA
PD监控电流
0~2000uA
管脚定义
软件切换支持各种封装类型的器件
Ith 扫描
支持Im扫描计算Ith
温度范围
RT+20℃~150℃
温度精度
±2℃
温度均匀性
满载时≤3℃，空载时≤2℃
升温过冲
≤3℃
长期温度稳定性
0.5℃
升温速度
100℃/半小时
设备尺寸（宽x高x深）
1400 x 1800 x 1200(mm)
电源规格
三相五线AC 380V/50HZ
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