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产品应用
• 批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析 -
产品特点
• 提供每路完全独立的驱动电流
• 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化
• 支持多种算法计算Ith
• ACC恒流模式和APC恒背光模式可选
• 支持热插拔，可靠的ESD/EOS防护，保证器件老化期间的安全
• 硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器
• 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率
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参 数
指 标
测试路数
单板64路，支持级联
LD监控电流
0-250mA
PD反偏电压
0-5V
LD正向电压
0-3V
PD监控电流
0-2000uA
管脚定义
软件切换支持各种封装类型的器件
LIV扫描
支持Im扫描计算Ith
数据库
系统自带SQL数据库，可以追述保存LD测试的数据
工作要求
25℃±5℃、湿度≤50%
存储要求
0℃~40℃、湿度≤50%
尺寸（宽x高x深）
482*67*550(mm)
电源规格
220V/50HZ
功率
220V 160W
关键词：