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APD集成式老化系统


APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选,最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件,同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件追溯,能够有效的提升TO生产的效率和可靠性,可以极大的提高器件测试的产量和质量。

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LD集成式老化系统


LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

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EML集成式老化系统


普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化,通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温,为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化,系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司EML TO盘测系统,显著提高测试效率和TO产品质量。

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APD台式老化监控电源


普赛斯APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件,提高器件的品质。该系统通过给APD提供恒流、PIN提供反偏压,TIA 提供恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度,达到高温下工作老化的功能。在老化过程中,对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试,并对测试数据进行记录,可对老化失效器件进行追述,单台独立老化64颗APD器件。

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