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数据通信COC测试机
PSS COC3T19201
PSS COCT2000支持COC器件(支持DFB/EML/Tunable)常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用,通过老化前后测试对比,筛选出不良产品。本机具有高集成度、高效率、高稳定性的特点。
用于COC封装的DFB和EML的激光器芯片测试,支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。
数据通信TO三温测试机
PSS LDTO3T8002
PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试,温度控制范围为-40℃~85℃,适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试,支持器件任意引脚封装测试,支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试,每块夹具可装载128颗TO,提高测试产量,系统具有温控快,温度均匀性好,稳定可靠,测试效率高的特点。
用于DFB或EML TO的工业级三温测试,支持LIV、光谱等光电特性测试。
数据通信TO46盘测机
PSS PAT-46-I(E)
为了提高光器件的可靠性,光器件在TO封装前会经过性能测试,避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉普赛斯TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
用于APDTIA或PINTIA TO测试,支持击穿电压、响应度、暗电流等光电特性测试。
数据通信TO56/EML TO盘测机
PSS PAT5606
PSS TO56自动盘测系统,适用于VCSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自动测试,采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO或32颗7PIN/8PIN DML/EML TO,支持任意引脚封装测试,支持高温测试、TEC温控、LIV特性测试以及光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用,提高工厂生产、测试效率,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
用于DFB或EML TO测试,支持LIV、光谱等光电特性测试。
激光雷达VCSEL COB测试机
PSS PLST1602
普赛斯窄脉冲集成式可靠性系统与性能测试系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性与激光雷达SMD封装器件的性能测试。可靠性系统的每个老化板可独独立设定老化电流电压参数,老化箱带自锁功能,防止老化过程中误操作,老化板实时温度检测,支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。
用于激光雷达VCSEL COB窄脉冲测试,支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试
激光雷达TO测试机
PSS PLST401
普赛斯窄脉冲TO测工装针对激光雷达高功率脉冲型封装器件的测试。体积小,集成度高。适合于研发等小批量测试验证环境。
用于激光雷达VCSEL TO窄脉冲测试,支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试
可见光TO盘测机
PSS PAT902-RGB
普赛斯可见光TO自动盘测机,能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试,支持TO56任意引脚封装测试,采用一块测试板测试64颗TO56,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用,提高工厂生产、测试效率。
用于可见光TO9的盘测,夹具与老化老化兼容,支持LIV、光谱等光电特性测试。
可见光TO自动上下料测试机
PSS TTP3302
TOCAN自动化测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试,支持任意引脚封装的TO56/TO9,设备支持TO自动上料、自动下料,可兼容客户使用的上下料载具,测试工作台支持温度控制,可实现TO在设定温度下测试;系统全自动运行,稳定高效,方便客户批量测试。 与大功率TO抽屉老化系统配套使用,是一套完整的大功率TO可靠性实验方案,TOCAN测试系统支持老化前后测试和对比,数据存储与分析。
用于可见光TO9或是TO56测试,支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试,自动上下料。
数据通信单工位Bar 条测试
PSS BAR-HT2101
普赛斯EML BAR条自动测试机用于LD巴条LIV曲线,光谱,背光自动测量,EA加电测试,SOA加电测试。全自动上下料,支持多种规格料盒上料,支持多种规格料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试,高温测试温度可由用户自定。向用户开放测量数据库,用于后续筛分工序。
数据通信类Bar单工位测试,支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。
数据通信双工位Bar 条测试
PSS BAR-HT2201
普赛斯双工位常高温BAR条自动测试机(PSS BAR-HT2201)用于DFB/EML等类型巴条常高温测试,可支持LIV、光谱、发散角、偏振等光电特性测试。全自动上下料,非黏性料盒上料,Disco蓝膜环下料。双测试系统双载台,温度可由用户自定:20~90℃。向用户开放测量数据,用于后续筛分工序。数据通信双工位Bar 条测试机,功能齐全,兼容性强。
数据通信类Bar双工位测试,支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。
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