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晶圆测试

VCSEL 晶圆测试机，覆盖光通、消费电子、激光雷达等应用领域的晶圆测试，支持2、4、6英寸Wafer，兼容性强，测试功能全面，包含LIV、光谱、近/远场发散角、偏振等测试项，测试效率高

晶圆测试

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数据通信VCSEL晶圆测试

数据通信VCSEL晶圆测试

PSS WT-8502

普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

850nm VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱相关参数的测试

PSS WT-8502

激光雷达VCSEL晶圆测试

激光雷达VCSEL晶圆测试

PSS WT-VL602

普赛斯高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

激光雷达类VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试

PSS WT-VL602

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