解决方案

产品中心

• 仪器仪表

  • 光模块测试

  • 光器件测试

  • PXI系统

• 可靠性装备

  • 芯片可靠性

  • 光器件可靠性

  • RGB可靠性

  • 激光雷达可靠性

  • 光模块可靠性

• 自动化测试装备

  • 晶圆测试

  • 芯片测试

  • 光器件测试

  • 光引擎测试

解决方案

• Ai数据中心

  • 数据中心

  • 接入网

  • 雷达

• 电信

  • TO老化和测试

• 新能源

  • TO老化和窄脉冲测试

• 消费光电子

  • 高功率BAR条测试

• 硅光

• 半导体

服务支持

• 常见问题

• 全球网点

• 售后服务

• 下载中心

新闻中心

• 公司新闻

• 行业动态

• 展会报道

关于普赛斯

• 公司简介

• 发展历程

• 荣誉资质

• 人才招聘

联系我们

• 联系方式

• 在线留言

友情链接

• 普赛斯仪表

• 深圳普睿博