产品中心

产品中心

产品中心
光芯片测试

光芯片测试

PSS光芯片测试机覆盖Wafer、BAR、chip、COC芯片测试需求，为全自动测试系统，系统集成机械运动、芯片测试测量、芯片温度平台、数据计算处理与显示功能，是一套完整的芯片测试解决方案，具有效率高、成本优势

查看详情
可靠性测试

可靠性测试

PSS可靠性设备覆盖行业内可靠性实验工艺环节，包含芯片老化、TO老化、模块老化及老化相关的配件；老化设备具备加电、监测、温控、数据计算处理与显示功能；核心加电部分为普赛斯多年经验设计，稳定性高，多路老化，成本优势明显

查看详情
TO测试

TO测试

PSS TO测试机针对光通、激光雷达、可见光应用领域的TO封装类型，支持全自动测试，测试夹具与老化工艺的共用，形成一套完整的老化测试解决方案

查看详情
OSA测试

OSA测试

PSS OSA测试设备覆盖行业光器件耦合、测试及三温测试，包含激光器、探测器仪表和测试方案型系统及配件；仪表为普赛斯自主设计，综合功能强，测试效率高

查看详情
模块测试

模块测试

PSS 模块测试覆盖光模块信号测试相关的设备，包含各类速率的误码仪、CDR、采样示波器、消光比测试仪等；设备均为自主研发设计，性能对标进口仪器，是模块测试厂家的最佳选择

查看详情
通用仪表

通用仪表

PSS 通用仪表包含光测量常用仪表，如光功率计、光衰、光开关、光源；以及基础的电通道切换的电开关仪表

查看详情
大功率脉冲源

PSS PLT2301

大功率脉冲源

支持脉冲模式：电流30A、电压40V，脉宽10us；支持直流模式：电流5A，电压10V

PSS PLT2301脉冲源适用于可见光、激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

查看详情
大功率脉冲源

PSS PLT1403

大功率脉冲源

支持脉冲模式：电流30A、电压40V，最小脉宽100ns

PSS PLT1403脉冲源适用于激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持ns窄脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

查看详情
单温载台（四针）芯片测试机

PSS BarT-HP-ns系列

单温载台（四针）芯片测试机

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

查看详情
双温载台（四针）芯片测试机

PSS BarT-HP-ns系列

双温载台（四针）芯片测试机

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

查看详情
选配发散角测试

PSS BarT-HP-ns系列

选配发散角测试

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

查看详情
DFB（单针）芯片测试机

PSS CHIP22405系列

DFB（单针）芯片测试机

兼容DC、Pulse加电

本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动测试，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。

查看详情
< 1234...13 > 前往 页