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可靠性装备

PSS可靠性设备覆盖行业内可靠性实验工艺环节，包含芯片老化、TO老化、模块老化及老化相关的配件；老化设备具备加电、监测、温控、数据计算处理与显示功能；核心加电部分为普赛斯多年经验设计，稳定性高，多路老化，成本优势明显
可靠性装备
图片名称
RGB TO集成式老化系统

RGB TO集成式老化系统

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PSS LDBI3072-TO56-P

普赛斯LD集成式老化设备，用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072路器件的老化，通过给LD器件提供恒定电流来实现对器件的老化，系统可实时显示老化电流、正向电压、背光电流、温度、功率等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司其他自动化设备。

老化电流≤150mA,电压≤7V，最多支持3072PCS RGB TO器件

PSS LDBI3072-TO56-P

10ns Lidar芯片可靠性系统

10ns Lidar芯片可靠性系统

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PSS PLSReliability

普赛斯窄脉冲集成式可靠性系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性测试。每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤30V，脉冲宽度10ns,占空比≤0.02%；

PSS PLSReliability

100ns TO脉冲老化系统

100ns TO脉冲老化系统

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PSS PLSBI0201

普赛斯大功率窄脉冲抽屉式老化系统主要用于Lidar 激光器在一定温度条件下进行脉冲加电老化，不同的老化抽屉可满足不同封装的Lidar 激光器的老化需求，一个老化系统最多可装载40个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤40V，脉冲宽度100ns,占空比≤0.02%；最多支持640PCS TO器件单次老化

PSS PLSBI0201

APD集成式老化系统

APD集成式老化系统

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PSS APDBI13002

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持3072pcs的单次老化

PSS APDBI13002

RGB COB模组老化系统

RGB COB模组老化系统

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PSS LRS-W-2561

普赛斯COB老化系统主要应用于可见光COB模组的老化筛选和寿命验证的系统，配置16个独立的老化抽屉单元，每个抽屉设置独立的水冷控制模块，可支持256PCS激光模组老化。系统采用定制的加电夹具，可支持不同封装COB激光器的老化。

老化电流≤7A,电压≤70V ，支持256PCS RGB CIB器件老化

PSS LRS-W-2561

COC抽屉式老化系统

COC抽屉式老化系统

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PSS COCBI13841

普赛斯COCBI老化系统为高功率COC老化系统，支持大电流、窄脉冲加电老化，用于COC芯片在高温，稳定电流条件的长时间可靠性实验，支持前光功率检测，软件实时监测老化过程数据，支持用户对芯片进行寿命分析和老化筛选； 整机采用抽屉式布局，最多支持10层，40个老化抽屉，可根据具体的老化规模需求配置老化箱的层数。

单路电流≤500mA;电压≤5V;支持40个控温单元,最大可同时3840PCS COC 的老化

PSS COCBI13841

LD集成式老化系统

LD集成式老化系统

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PSS LDBI13003

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，最多支持3072PCS的单次老化

PSS LDBI13003

EML集成式老化系统

EML集成式老化系统

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PSS EMLBI11536/PSS EMLBI21536

普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

LD驱动电流≤250mA，SOA驱动电流≤250mA，PD反偏电压≤5V，LD正向电压≤5V，EA电压0~-5V，最多支持1536PCS单次老化

PSS EMLBI11536/PSS EMLBI21536

APD台式老化监控电源

APD台式老化监控电源

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PSS APDBI-IV

普赛斯APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统通过给APD提供恒流、PIN提供反偏压，TIA 提供恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持64pcs的单次老化，

PSS APDBI-IV

LD台式老化监控电源

LD台式老化监控电源

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PSS ATLD-VI

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率

LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，支持64PCS的单次老化

PSS ATLD-VI

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