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可靠性装备

PSS可靠性设备覆盖行业内可靠性实验工艺环节，包含芯片老化、TO老化、模块老化及老化相关的配件；老化设备具备加电、监测、温控、数据计算处理与显示功能；核心加电部分为普赛斯多年经验设计，稳定性高，多路老化，成本优势明显
可靠性装备
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大功率COS老化系统

大功率COS老化系统

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PSS LRS26401

普赛斯大功率抽屉式老化系统（PSS LRS26401），主要用于大功率激光器在一定温度条件下进行老化筛选以及寿命可靠性分析。一个老化系统最多可装载40个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制，系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压、光功率、温度等数据，方便用户可靠性分析。

单路≤8A电压≤8V;单夹具支持16PCS器件，整机支持640PCS TEC+水冷温控，温度范围 20~120度

PSS LRS26401

抽屉式模块温循老化系统

抽屉式模块温循老化系统

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PSS MD3T1144

普赛斯光模块温循老化系统（PSS MD3T1144）用于光模块的温循业务测试以及可靠性分析。该系统采用抽屉式TEC+液冷解决方案，提供3~4V恒压以及温循老化条件，同时支持误码功能测试，且对模块的工作电流、电压及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过DDM记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率及光电误码率等。

单模块支持最大10A电流，TEC+水冷控温，温度范围：20~85度，提供144PCS 模块同时老化。

PSS MD3T1144

LD集成式高温高湿老化系统

LD集成式高温高湿老化系统

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PSS WHT11281

普赛斯 LD 集成式高温高湿（PSS WHT11281） 老化系统，常用于DFB&Vcsel 类型 TO/COC 的老化验证以及寿命可靠性分析。系统提供高温高湿试验环境,及 1280 路 LD 恒流驱动。单路支持 250mA/5V 恒流输出，实时监测电流、电压、温度、湿度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库，可对失效器件数据分析追溯。

单路电流≤250mA，电压≤5V；单老化板支持64PCS LD器件，整机同时支持1280PCS

PSS WHT11281

COC 集成式高温高湿老化系统

COC 集成式高温高湿老化系统

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PSS WHT15761

普赛斯 COC 集成式高温高湿（PSS WHT15761） 老化系统，常用于COC 的老化可靠性分析。系统提供高温高湿试验环境及 576 路 LD 恒流驱动。单路支持 1000mA/5V 恒流输出，实时监测电流、电压、温度、湿度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库，可对失效器件数据分析追溯。

单路电流≤1000mA，电压≤5v；单鱼骨夹具支持24PCS器件，整机同时支持576PCS，鱼骨夹具采用COC打线方式进行老化

PSS WHT15761

大功率抽屉式COC老化系统

大功率抽屉式COC老化系统

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PSS LRS23841

普赛斯大功率抽屉式 COC（PSS LRS23841） 老化系统，常用于大功率 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯

TEC+水冷控温，单路电流≤1000mA;电压≤5V;支持40个控温单元,最大可同时3840PCS COC 的老化

PSS LRS23841

抽屉式模块老化系统

抽屉式模块老化系统

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PSS MBS11921

普赛斯光模块老化系统（PSS MBS11921）用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统采用抽屉式解决方案，提供 3~4V 恒压以及高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过DDM 记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。

提供 3~4V 供电，单模块最大支持10A电流。独立控温，温控范围60~85度。支持192PCS模块同时老化

PSS MBS11921

RGB TO集成式老化系统

RGB TO集成式老化系统

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PSS LDBI3072-TO56-P

普赛斯LD集成式老化设备，用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072路器件的老化，通过给LD器件提供恒定电流来实现对器件的老化，系统可实时显示老化电流、正向电压、背光电流、温度、功率等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司其他自动化设备。

老化电流≤150mA,电压≤7V，最多支持3072PCS RGB TO器件

PSS LDBI3072-TO56-P

10ns Lidar芯片可靠性系统

10ns Lidar芯片可靠性系统

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PSS PLSReliability

普赛斯窄脉冲集成式可靠性系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性测试。每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤30V，脉冲宽度10ns,占空比≤0.02%；

PSS PLSReliability

100ns TO脉冲老化系统

100ns TO脉冲老化系统

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PSS PLSBI0201

普赛斯大功率窄脉冲抽屉式老化系统主要用于Lidar 激光器在一定温度条件下进行脉冲加电老化，不同的老化抽屉可满足不同封装的Lidar 激光器的老化需求，一个老化系统最多可装载40个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤40V，脉冲宽度100ns,占空比≤0.02%；最多支持640PCS TO器件单次老化

PSS PLSBI0201

APD集成式老化系统

APD集成式老化系统

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PSS APDBI13002

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持3072pcs的单次老化

PSS APDBI13002

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