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LD集成式高温高湿老化系统

所属分类：

光器件可靠性

普赛斯 LD 集成式高温高湿（PSS WHT11281） 老化系统，常用于DFB&Vcsel 类型 TO/COC 的老化验证以及寿命可靠性分析。系统提供高温高湿试验环境,及 1280 路 LD 恒流驱动。单路支持 250mA/5V 恒流输出，实时监测电流、电压、温度、湿度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库，可对失效器件数据分析追溯。

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    • 商品名称: LD集成式高温高湿老化系统
    • 型号: PSS WHT11281
    • 描述: 单路电流≤250mA，电压≤5V；单老化板支持64PCS LD器件，整机同时支持1280PCS

    普赛斯 LD 集成式高温高湿（PSS WHT11281） 老化系统，常用于DFB&Vcsel 类型 TO/COC 的老化验证以及寿命可靠性分析。系统提供高温高湿试验环境,及 1280 路 LD 恒流驱动。单路支持 250mA/5V 恒流输出，实时监测电流、电压、温度、湿度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库，可对失效器件数据分析追溯。

    应用

    1、实验阶段长时间可靠性验证
    2、批量生产环节 TO 老化验证

     

    特点

    采用集成式方案，高温高湿试验环境和电源驱动一体化设计；
    1、 提供每路完全独立的恒流驱动；
    2、老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率 ；
    3、支持热插拔，可靠的 ESD/EOS 防护，保证器件老化期间的安全 ；
    4、支持 lm 扫描计算 Ith ；
    5、软件切换支持各种类型封装 LD 器件的老化 ；
    6、以老化板为最小的控制单元，支持不同电流条件老化；
    7、支持超温保护、超湿保护、开路保护、短路保护、通信保护；
    8、完善的 EOS 防护，保证器件老化期间安全。

     

    规格

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