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产品应用
• 批量生产环节中APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析 -
产品特点
• 提供每路完全独立的驱动电流
• 两个独立老化箱体，可以完全独立控制，升温速度效率高，无过冲
• APD电路具有限压保护功能，防止恒流开路高电压输出损坏器件
• 可靠的EOS防护，上电时序先TIA上电，再APD上电，下电时序先APD下电，再TIA下电，
• 先后延时可配置，保证器件上下电安全
• 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料，提高生产效率
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参 数
指 标
测试路数
单板64路，左右2个仓，每层24个，共3072路
独立温区数
2个
APD恒流驱动
0～2mA
APD电压测量
0～70V
TIA恒压驱动
0～5V
TIA电流测量
0～60mA
VPD输出电压
0~20V
PD电流检测
0~200uA
温度范围
RT+20℃~150℃，可定制支持175℃。
温度精度
±2℃
温度均匀性
满载时≤3℃，空载时≤2℃
升温过冲
≤3℃
长期温度稳定性
0.5℃
升温速度
100℃/半小时
设备尺寸（宽x高x深）
1400 x 1800 x 1200(mm)
电源规格
三相五线AC 380V/50HZ
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