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PXIe插卡式源表

PXIe插卡式源表

PSS PXIe-5141是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±100mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

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控制卡

控制卡

PXIe-1711系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1711采用Intel 十一代酷睿处理器，基频2.6G最高睿频4.5G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1711系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

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控制卡

控制卡

PXIe-1512系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1512采用Intel 十二代酷睿处理器，基频1.3G最高睿频4.4G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1512系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

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控制卡

控制卡

PXIe-1511系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1511采用Intel 十一代酷睿处理器，基频2.6G最高睿频4.5G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1511系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

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PIV智能耦合电源

PIV智能耦合电源

PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD提供驱动电源，以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数：阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、正向电压等。并在本机显示相关参数，以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等，也可以外接示波器显示相关波形。

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探测器耦合测试仪

探测器耦合测试仪

普赛斯的探测器耦合测试仪（PSS RCML20192），用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)两种类型的各种脚位顺序ROSA/BOSA器件的耦合生产与测试。本仪器自带光衰模块，可实现快速衰减，同时内置输出监视的高精度光功率计，在衰减的同时可以实时监控输出端口的光功率。且支持外置光模块接口，可外接不同波长模块，为生产ROSA/BOSA器件提供不同耦合光源需求提供便利。 设备内置稳定的APD高压源、恒流源、显示模组、回损测试等功能模块。

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数据通信VCSEL晶圆测试

数据通信VCSEL晶圆测试

普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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激光雷达VCSEL晶圆测试

激光雷达VCSEL晶圆测试

普赛斯高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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COC抽屉式老化系统

COC抽屉式老化系统

普赛斯 抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841），常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯。

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LD集成式老化系统

LD集成式老化系统

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

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EML集成式老化系统

EML集成式老化系统

普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

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APD台式老化监控电源

APD台式老化监控电源

普赛斯APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统通过给APD提供恒流、PIN提供反偏压，TIA 提供恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。

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LD台式老化监控电源

LD台式老化监控电源

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率

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EML台式老化监控电源

EML台式老化监控电源

普赛斯 EML 台式老化监控电源(PSS ATEML-3201)，用于 EML TO 器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高 TO 产品的质量。单台系统可支持 32路器件的老化，通过对器件内部 TEC 进行高温控温，给 EML 器件提供恒定电流来 实现对 EML 器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司 EML TO 盘测系统。

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