SEO
VCSEL晶圆测试机
关键词：
产品
新闻
下载
普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
关键词：
普赛斯高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
关键词：
普赛斯COCBI老化系统为高功率COC老化系统，支持大电流、窄脉冲加电老化，用于COC芯片在高温，稳定电流条件的长时间可靠性实验，支持前光功率检测，软件实时监测老化过程数据，支持用户对芯片进行寿命分析和老化筛选； 整机采用抽屉式布局，最多支持10层，40个老化抽屉，可根据具体的老化规模需求配置老化箱的层数。
关键词：
不知道如何选择对自己来说好的？
让我们协助您！
我们的专家将在 6 小时内与您联系，满足您更多需求。