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TO56自动盘测系统
PSS TO56自动盘测系统,适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试,采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO,支持任意引脚封装测试,支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用,提高工厂生产、测试效率,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
TO46自动盘测系统
为了提高光器件的可靠性,光器件在TO封装前会经过性能测试,避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉普赛斯TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
TO三温测试系统
PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试,温度控制范围为-40℃~85℃,适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试,支持器件任意引脚封装测试,支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试,每块夹具可装载128颗TO,提高测试产量,系统具有温控快,温度均匀性好,稳定可靠,测试效率高的特点。
窄脉冲TO测试机
窄脉冲TO测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试,设备支持TO/COB自动上料、自动下料,可兼容客户使用的上下料载具,测试工作台支持温度控制,可实现TO在设定温度下测试;系统全自动运行,稳定高效,方便客户批量测试。 与大功率窄脉冲TO抽屉老化系统配套使用,是一套完整的大功率窄脉冲TO可靠性实验方案,窄脉冲TO测试系统支持老化前后测试和对比,数据存储与分析。
普赛斯可见光TO自动盘测机,能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试,支持TO56任意引脚封装测试,采用一块测试板测试64颗TO56,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。 该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用,提高工厂生产、测试效率。
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