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单温载台(四针)芯片测试机
普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试,全自动测试BAR条LIV曲线,光谱,远场参数。全自动上下料,支持多种规格料盒上料,支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试,温度可由用户自定。向用户开放测量数据库,用于后续筛分工序。
双温载台(四针)芯片测试机
选配发散角测试
单温载台(单针)芯片测试机
可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线,光谱,远场自动测量。全自动上下料,支持料盒上料,支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试,测试温度可由用户自定。探针加电,测试NG chip采取打点标记,向用户开放测量数据库,用于后续筛分工序。
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