选配发散角测试
所属分类：
可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
- 应用
- 特点
- 规格
- 下载
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产品应用
• 设备用于可见光BAR条自动测试，可以实现常温、高温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试
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产品特点
• 支持多种主流规格料盒，全自动上下料，避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废
• 上下料料盒配磁吸式夹具，支持快速更换不同规格料盒或蓝膜盘
• 支持BAR条自动上料、首颗chip识别定位，支持ID识别、自动测试、自动判断BAR条测试结束、自动下料
• 吸嘴、探针与BAR条接触压力可调
• 支持单探针、双探针、多探针加电的形态• 高温、常温测试台，温度采用闭环控制
• 支持前光LIV曲线、功率、光谱测量，背光功率测量，多参数多条件筛分，尽可能筛选出不良chip，避免流入后道工序
• 支持MAP图绘制，方便用户对wafer的性能分布情况分析
• 支持NG Chip打点标记，支持简单的芯片外观检查
• 支持常温、高温测试，常温台支持温控
• 多维度可调测量结构，满足用户对不同规格巴条测量需求 -
参 数
指 标
适用巴条尺寸
长度：15~30mm
宽度：0.2~0.5mm，其他BAR条宽度可定制测试台
仪表型号
吉时利（Keithley）2601B-PULSE
测量参数
LIV曲线，Ith，Po，Vf，Im，Rs，SE，Kink等
LD驱动电流
小功率芯片范围0 ~ 300mA，精度0.1%FS±0.5mA
大功率芯片范围0 ~ 5A，精度0.1%FS±5mA
电流模式
CW/Pulse
P-I-V
Pulse 0.1ms (ON) Duty1%
正向电压测试
小功率芯片范围0 ~ 15.0V，精度0.1% FS±50mV
大功率芯片范围0 ~ 10.0V，精度0.1% FS±50mV
光功率测试
小功率芯片测试范围0-300mW；精度0.1% FS±50uW；波长范围380-700nm
大功率芯片测试范围0-10W；精度0.1% FS±10mW；波长范围380-700nm
温度控制
常温:20~85℃；稳定性≤ ±0.5℃
气源要求
正压：>0.6MPa 负压：<-80KPa
电源
AC 220V/8A 50Hz
关键词：