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TO46自动盘测系统

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为了提高光器件的可靠性,光器件在TO封装前会经过性能测试,避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉普赛斯TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。


  • 应用
  • 特点
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    • 商品名称: TO46自动盘测系统
    • 型号: PSS PAT-46-I(E)
    • 描述: 支持PIN-TIA、APD TO自动测试

    为了提高光器件的可靠性,光器件在TO封装前会经过性能测试,避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉普赛斯TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

    产品应用

    • PIN-TIA(Vpd/Mon)/APD-TIA TO性能测试 
    • TO46的焦距抽检测试

     

  • 产品特点

    • 兼容PSS老化板,可一站式完成TO老化、测试
    • 支持老化前后对比,可对比各项测试参数,便于失效分析
    • 具备焦距测试功能
    • 支持任意引脚切换(GND脚除外),实现一种接法,多种封装测试

     

     

    • 支持外部光源QSFP、SFP模块接口,实现任意波长测试
    • 桌面式设备,占地面积小
    • 软件操作方便,具有统计和分档功能,方便批量测试分析

     

     

  • 参 数

    指 标

    盘测容量

    64

    主要测量参数

    击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流、接收强度

    击穿电压Vbr

    0-70V

    暗电流Id

    0-100nA

    响应电流

    0-2000uA

    TIA电压

    0~5V

    工作电流Icc

    0-100mA

    接收强度D+、D-

    0-3.3V

    内置光源

    850nm、1310nm、1490nm、1550nm,2M调制光源

    外置光源接口

    支持SFP、QSFP封装光模块

    内置光衰

    0~40dB

    焦距测试

    范围3mm ~ 20mm