+
  • 产品06.png

TO56自动盘测系统

所属分类:


普赛斯可见光TO自动盘测机,能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试,支持TO56任意引脚封装测试,采用一块测试板测试64颗TO56,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。 该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用,提高工厂生产、测试效率。


  • 应用
  • 特点
  • 规格
  • 下载
    • 商品名称: TO56自动盘测系统
    • 型号: PSS PAT-56-I(E)-RGB
    • 描述: 支持可见光TO测试

    普赛斯可见光TO自动盘测机,能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试,支持TO56任意引脚封装测试,采用一块测试板测试64颗TO56,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。 该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用,提高工厂生产、测试效率。

    产品应用

    • 可见光波段TO56测试
    • TO光谱测试

     

     

     

  • 产品特点

    • 支持任意引脚切换,多种封装测试
    • 支持老化前后对比,可对比各项测试参数,便于失效分析
    • 测试加电无过冲,加电EOS波形如下(典型TypeC器件加电测试)

     


    • 兼容PSS老化板,可一站式完成TO老化、测试
    • 软件操作方便,具有统计和分档功能,方便批量测试分析

     

  • 参 数

    指 标

    激光器封装类型

    VCSEL/FP/DFB/ DML器件任意封装类型

    路数

    64路

    LD驱动电流输出

    0 ~ 500mA

    LD正向电压测试

    0 ~ 5.0V

    LD暗电流

    0-300nA,精度0.5%±1.5nA

    LD保护二极管

    电压范围0-5V,电流范围0-2mA

    MPD反压输出

    0 ~ 5.0V

    MPD暗电流测试

    0 ~ 300nA

    MPD背光电流测试

    0 ~ 3000uA

    光功率检测

    0 ~ 100mW

    测定项目

    (1)LIV特性 (2) 光谱特性 (3)焦距

    焦距测试

    范围3mm ~ 20mm,重复性±0.05mm,时间22s(非球@典型值)

    环境要求

    25℃±5℃、≤%50湿度

    电源

    AC 220V/50HZ

    设备尺寸

    755mmX715mmX760mm