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NPO三温误码仪

NPO三温误码仪

普赛斯 NPO 三温误码仪集成 ELSFP 光源模组、32 通道误码仪、NPO 专用测试板及 TEC + 液冷快速温变系统，用于 NPO 光模块性能测试。 设备采用模块化架构，常温 ELSFP 光源模组与 32CH 误码仪配合 NPO 测试板，可完成 NPO 模块收发端全项测试。 TEC + 液冷温控方案支持 NPO 模块三温循环测试，搭配普赛斯自研冷水机构建独立水循环体系。平台预留扩展能力，可快速升级适配后续 6.4T NPO 产品迭代。

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DOA光衰减器

DOA光衰减器

PSS公司DOA14161是一款可程控的16通道单模数字光衰减器设备，具有低插入损耗，高衰减精度和重复性等特点；另外光进光出端集成有高精度光功率计，可实时检测输入输出光功率；通信接口除了RS232还可以支持LAN或GPIB接口。设备可用于400G/800G等高速光模块的测试，以及光纤通信、光纤CATV等领域的各种集成测试，满足客户不同应用需求。

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PXI源表

PXI源表

PSS PXIe-5116 是一款 16通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±50mA 直流/脉冲输出，最小脉宽可达 100μs。支持源表标准 SCPI 指令集，支持 PX Ie Trigger 及前面板 DIO 同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

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PXI源表

PXI源表

PSS PXIe-5180 是一款 8 通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±500mA 直流/脉冲输出，最小脉宽可达 100μs。支持源表标准 SCPI 指令集，支持 PX Ie Trigger 及前面板 DIO 同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

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PXI源表

PXI源表

PSS PXIe-5142是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±30V，±1A直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

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PXI源表

PXI源表

PSS PXIe-5141A是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±30V，±200mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

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4通道源表

4通道源表

PSS SM13043是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±30V/±5A脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS232/RS422串口通信，支持源表标准SCPI指令集，支持多台源表同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

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高功率源表

高功率源表

高电压源测单元HV350A具有输出及测量电压高(3500V)、能输出及测量微弱电流信号(最小量程1nA)的特点。设备工作在一三象限，支持2/4线测试，输出及测量电压0~3500V，输出及测量电流0~120mA，支持高达2M S/s采样率。支持恒压恒流工作模式，同时支持丰富的I-V扫描模式。设备可应用于功率半导体器件，如IGBT/SIC MOS等击穿电压测试、防雷二极管耐压测试、压敏电阻耐压测试等场合。

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P系列源表

P系列源表

P300C系列源表是一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最大输出电流达4A，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试 中。P300C系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

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OCS

OCS

PSS OCS32X321 是针对数据中心及 AI 算力集群中 OCS光矩阵开关量身打造的高精度、自动化综合测试平台。平台解决高光矩阵开关（如 3D-MEMS、2D-MEMS、 LCOS 及波导芯片）在研发、品质检验及规模化生产中的各项关键参数测量。

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恒流脉冲源

恒流脉冲源

PSS PLT2303 脉冲源主要应用于 RGB Chip、COS/COC、TO、Bar 条等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流 PIV 特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持反向漏电流测试、VBR 测试，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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P系列源表

P系列源表

P300S系列源表是一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最大输出电流达1A，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。P300S系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

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65GHz 采样示波器

65GHz 采样示波器

DCA65021光采样示波器用于发射机性能指标测试，支持单路或4路光输入，支持NRZ和PAM4信号测试，光通道带宽65GHz配备多种典型滤波器。 采用最佳垂直分辨率、高采样率ADC实现连续等效采样技术，结合自研算法完成眼图重构，优异的电路设计保证系统噪声低至10uw以下，搭配经过校准的参考接收机（符合行业容限标准），完美满足业内精确测试数字波形的需求。 高精度、低噪声、低成本，快速采样示波器为客户提供光电性能测试一站式解决方案。

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ELSFP温控平台

ELSFP温控平台

ELSFP模块温控平台是一款针对于ELSFP光源模块进行三温测试的设备，设备内采用MCB板形式，内置TEC+水冷控温，可支持模块DDM温度0-70℃测试，产品即插即用，快速实现研发、生产测试。

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