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抽屉式模块老化系统

抽屉式模块老化系统

普赛斯光模块老化系统（PSS MBS11921）用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统采用抽屉式解决方案，提供 3~4V 恒压以及高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过DDM 记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。

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800G三温误码仪

800G三温误码仪

集成800G误码仪、MCB板和三温TEC+液冷快速温变系统，可支持多端口400G/800G OSFP、OSFP-RHS、QSFP112、QSFP-DD等模块插入测试。 设备采用模块化设计，可根据用户实际需求选配不同端口数量及封装，满足客户个性化测试需求。 TEC+液冷方案可实现800G及以下速率模块三温循环，搭配普赛斯自研冷水机实现四路完全独立的水循环环境，保证每个端口温控独立。 在保证优异性能的同时，与传统方案相比，减少测试台位空间，缩减测试成本，增大研发生产测试效率。

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光开关

光开关

普赛斯OPS光开关主要用于多通道光路的切换。设备采用先进的高性能核心器件进行控制，具有工作稳定，切换速度快，插入损耗低，温度相关损耗和偏振相关损耗低，回损低，隔离度高，开关寿命长等特点，广泛应用于光传输系统，测试系统以及监控领域。本测试仪自带按键和液晶，方便用户本地操作。

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SFP28模块测试板

SFP28模块测试板

普赛斯模块测试板可针对不同封装类型的光模块进行测试，测试板可靠性高，重复性好，信号质量佳。模块IIC引脚引出，满足客户自行连接测试，同时也可选配测试盒，起静电防护和固定作用。

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QSFP28模块测试板

QSFP28模块测试板

普赛斯模块测试板可针对不同封装类型的光模块进行测试，测试板可靠性高，重复性好，信号质量佳。模块IIC引脚引出，满足客户自行连接测试，同时也可选配测试盒，起静电防护和固定作用。

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QSFP-DD模块测试板

QSFP-DD模块测试板

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OSFP模块测试板

OSFP模块测试板

普赛斯模块测试板可针对不同封装类型的光模块进行测试，测试板可靠性高，重复性好，信号质量佳。模块IIC引脚引出，满足客户自行连接测试，同时也可选配测试盒，起静电防护和固定作用。

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磁盘阵列卡

磁盘阵列卡

PXIe-9010磁盘阵列卡是为PXIe插卡式主机提供磁盘扩展，是一款高速大容量的存储模块，传输速率高达3.5GB/s，PXIe-9010提供最高16TB存储容量。PXIe-9010符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流PXIe供应商生产的机箱和系统卡，可满足企业研发、测试和生产的需求。

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六卡槽混合机箱

六卡槽混合机箱

PXIe-3063H 机箱是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-3063H机箱将高性能背板、电源和结构设计相结合，并经过优化，可在各种应用场景中出色的展现其可靠性高、通用性和实用性强等特点。PXIe-3063H机箱符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的测试板卡及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

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脉冲电压源

脉冲电压源

PSS PLT1403窄脉冲源适用于激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持ns窄脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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脉冲电流源

脉冲电流源

PSS PLT2301脉冲源适用于可见光、激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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脉冲电流源

脉冲电流源

PSS PLT2302源表适用于可见光、大功率BAR、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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大功率电源

大功率电源

PSS LIV71010源表适用于可见光、激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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RGB TO集成式老化系统

RGB TO集成式老化系统

普赛斯LD集成式老化设备，用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072路器件的老化，通过给LD器件提供恒定电流来实现对器件的老化，系统可实时显示老化电流、正向电压、背光电流、温度、功率等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司其他自动化设备。

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