“巨匠来袭,测随心动”-武汉普赛斯电子携高速100G测试解决方案参展CIOE 2018

发布时间:2018-08-14


专业光电测试解决方案供应商-武汉普赛斯电子将出席2018年9月5日 ~ 8日第20届中国国际光电博览会,届时,武汉普赛斯电子技术有限公司将携全系列光芯片,光组件,光器件,光模块,光猫完整的测试设备与最新技术方案亮相本届光博会,普赛斯电子致力于让光电企业的制造与测试更高效。

宝剑锋从磨砺出,梅花香自苦寒来。在今年的深圳光博会上,武汉普赛斯电子将现场展出行业内最领先的光通信测试解决方案,包括COC老化监控与测试系统,全新8发4收100G误码仪,PAM4误码测试系统,至高低温自动盘测系统,25G BOSA收发测试系统,EML系列完整解决方案,四工位模块测试系统,8工位BOB交错调测系统,APD至一体式老化监控系统等,武汉普赛斯全体工作员工诚邀广大客户与朋友莅临展会现场进行交流与指导。

8发4收100克误码仪(左)、25克博萨综合测试系统 (右)

普赛斯展位号:1号馆1F05
参展时间:2018年9月5 ~ 8日
参展地点:深圳会展中心