武汉普赛斯电子携抽屉式100G老化测试方案参展CIOE 2017
发布时间：2017-08-11
专业光电仪器仪表生产商---武汉普赛斯电子将出席2017年9月6日~9日第19届中国国际光电博览会，届时，武汉普赛斯电子技术有限公司将携全系列光芯片、光器件、光模块、光猫完整的测试设备与最新技术方案亮相本届光博会，如：抽屉式老化测试系统、100G误码仪、TO一体化老化监控系统、TO自动盘测系统、TO自动下料分拣系统、BAR条自动测试系统、EML器件完整解决方案、四工位模块测试系统、多路模块可靠性系统、LD失效分析系统等。
在今年的深圳光博会上，武汉普赛斯将重点展出抽屉式老化测试系统、100G误码仪、BAR条自动测试系统、EML器件生产测试系统，并于展台现场演示大部分重点产品。武汉普赛斯全体工作员工诚邀广大客户与朋友莅临展会现场进行交流与指导。
普赛斯展位号：1号馆1F09
参展时间：2017年9月6~9日
参展地点：深圳会展中心
武汉普赛斯CIOE 2017邀请函
武汉普赛斯CIOE 2017展位效果图
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