绽放科研之光光电九月-武汉普赛斯电子携高速400G测试解决方案参展CIOE 2020

发布时间:2020-08-25


普赛斯展位号:4号馆通信系统设备馆4A25

参展时间:2020年9月9-11日

参展地点:深圳会展中心(宝安新展馆)

专业光电测试解决方案供应商-武汉普赛斯电子将出席2020年9月9日-11日第22届中国国际光电博览会。届时、武汉普赛斯电子技术有限公司将携全系列光芯片、光组件、光器件、光模块测试设备与最新技术方案亮相本届光博会。普赛斯电子致力于求精、创新的企业工匠精神、让光电企业的制造与测试更高效。

良工锻炼凡几年,铸得宝剑名龙泉。在今年的光博会上、武汉普赛斯电子将现场展出行业内的光通信测试解决方案、包括COC老化系统、棒材条自动测试机、探测器组件测试分拣一体机、芯片测试仪、全新8路收发400G高速误码仪、SFP模块老化、LD集成式老化系统等、武汉普赛斯全体员工诚邀广大客户朋友莅临展会现场进行交流指导。

COC老化系统

条形条自动测试机

芯片测试仪

400G高速误码仪