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大功率脉冲源

PSS PLT2301

大功率脉冲源

支持脉冲模式：电流30A、电压40V，脉宽10us；支持直流模式：电流5A，电压10V

PSS PLT2301脉冲源适用于可见光、激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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大功率脉冲源

PSS PLT1403

大功率脉冲源

支持脉冲模式：电流30A、电压40V，最小脉宽100ns

PSS PLT1403脉冲源适用于激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持ns窄脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。

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单温载台（四针）芯片测试机

PSS BarT-HP-ns系列

单温载台（四针）芯片测试机

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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双温载台（四针）芯片测试机

PSS BarT-HP-ns系列

双温载台（四针）芯片测试机

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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选配发散角测试

PSS BarT-HP-ns系列

选配发散角测试

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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DFB（单针）芯片测试机

PSS CHIP22405系列

DFB（单针）芯片测试机

兼容DC、Pulse加电

本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动测试，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。

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