普赛斯常高温薄膜铌酸锂自动测试机(PSS CHIP-LiNbO3)用于 LiNbO3 芯片耦合测试，可支持热电阻、热调功率、半波电压、光谱等光电特性测 试。单测试系统单载台，载台温控：25~85℃。全自动上下料。向用户开 放测量数据，用于后续筛分工序。
普赛斯 COS自动测试系统（PSS COST22401）支持 COS 封装形式的 CW-DFB 激光器芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试，支持 us 级直流/脉冲的输出与测试，该系统采用双工位测试、机械手全自动上下料。 该系统具有高集成度、 高效率、 高稳定性、维护操作简单的特点。
PSS COCT2000支持COC器件（支持DFB/EML/Tunable）常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用，通过老化前后测试对比，筛选出不良产品。本机具有高集成度、高效率、高稳定性的特点。
PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃，适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。