解决方案
1.6T/800G高速光模块测试解决方案

1.6T/800G高速光模块测试解决方案

普赛斯1.6T/800G高速光模块测试解决方案，专为新一代高速算力光模块研发与量产打造，兼容100G/200G/400G/800G/1.6T全系列光模块测试需求。设备采用模块化集成机柜设计，整合三温BERT、DCA、CDR、光衰、温控系统等全套测试硬件，配合平台化智能测试软件，支持多工位并行独立三温测试，覆盖研发验证、批量出厂全流程检测，是云计算、AI算力中心、光通信器件标准化质检成套解决方案。

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NPO模块测试解决方案

NPO模块测试解决方案

普赛斯NPO测试解决方案专为NPO（近封装光学）模块打造的一体化测试解决方案，针对ELSFP光源的NPO产品架构，整合800G/1.6T三温误码仪、光开关、可调光衰减器、800G/1.6T光采样示波器等核心测试设备，完整覆盖发射端光信号质量测试、接收端灵敏度与误码测试等性能验证，支持三温环境下的多通道并行测试，保障研发及量产测试需求。

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ELSFP模块测试解决方案

ELSFP模块测试解决方案

普赛斯ELSFP模块测试方案集成温控平台、保偏光开关、高功率光功率计，可支持最多两端口ELSFP光源模块插入测试，且保证每个端口温控独立，通过模组化设计思路实现快速替换。与传统方案相比，减少测试台位空间，缩减测试成本，增大研发生产测试效率，搭配自动化生产测试软件，可一站式完成ELSFP光源模块的全项指标测试。

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RGB老化及测试系统解决方案

RGB老化及测试系统解决方案

ᅟᅠ为保证RGB TO/COB生产的良率，RGB 芯片在TO/COB生产工艺过程中，需要经过严格的老化筛选、性能测试环节。普赛斯设计的老化系统和测试机，装载待测产品的夹具兼容在老化抽屉和测试机的使用，在老化和测试工艺过程中可避免重复上下料，一站式完成RGB TO/COB的生产。可同时支持512颗TO封装RGB器件的老化，提高生产产能。

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高功率BAR条测试

高功率BAR条测试

武汉普赛斯电子股份有限公司位于中国武汉光谷，成立于2010年，致力于为半导体激光器行业提供光电性能测试，是专业的半导体激光器和探测器光电性能测试设备，仪表和系统提供商。

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TO老化和窄脉冲测试

TO老化和窄脉冲测试

武汉普赛斯电子股份有限公司位于中国武汉光谷，成立于2010年，致力于为半导体激光器行业提供光电性能测试，是专业的半导体激光器和探测器光电性能测试设备，仪表和系统提供商。

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