济源激光雷达VCSEL COB测试机
普赛斯窄脉冲集成式可靠性系统与性能测试系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性与激光雷达SMD封装器件的性能测试。可靠性系统的每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。
类别：
济源光器件测试
产品描述
应用
1、用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性测试；
2、用于激光雷达SMD封装器件的性能测试；
特点
窄脉冲集成式可靠性系统：
1、支持10ns脉冲输出；
2、支持脉冲电流30A，占空比≤0.02%；
3、两个独立的温区，可独立设置温度；
4、每个老化板可独立设定老化电流，电压参数；
5、老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作；
6、老化板实时温度检测；
7、支持本地Access保存或SQL服务器保存数据；
8、温度稳定性±0.5℃；
窄脉冲性能测试：
1、支持10ns窄脉冲加电测试；
2、支持电压、电流、光功率测试；
3、支持光谱测试；
4、支持光脉冲波形测试；
5、支持激光器近场光斑测试；
6、支持远场发散角测试；
测试图
电脉冲图
近场
远场，测试发散角
规格
10ns Lidar芯片可靠性系统：
10ns Lidar芯片测试系统：