盐城数据通信单工位Bar 条测试
普赛斯EML BAR条自动测试机用于LD巴条LIV曲线，光谱，背光自动测量,EA加电测试,SOA加电测试。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
类别：
盐城芯片测试
产品描述
应用
设备用于 DFB/EML BAR条自动测试，可以实现常温、高温条件下边发射芯片光谱、LIV 参数测试
特点
1、支持多种主流规格料盒，全自动上下料，避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废；
2、上下料料盒配磁吸式夹具，支持快速更换不同规格料盒或蓝膜盘；
3、支持BAR条自动上料、首颗chip识别定位，支持ID识别、自动测试、自动判断BAR条测试结束、自动下料；
4、吸嘴、探针与BAR条接触压力可调；
5、支持单探针、双探针、多探针加电的形态；
6、支持前光LIV曲线、功率、光谱测量，背光功率测量，EA、SOA相关测试，多参数多条件筛分，尽可能筛选出不良chip，避免流入后道工序；
7、支持MAP图绘制，方便用户对wafer的性能分布情况分析；
8、支持NG Chip打点标记，支持简单的芯片外观检查；
9、支持常温、高温测试，常温台支持温控；
10、多维度可调测量结构，满足用户对不同规格巴条测量需求；
规格
