开远COC抽屉式老化系统
普赛斯 抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841），常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯。
类别：
开远芯片可靠性
产品描述
应用
1、用于 DFB、EML、EML-SOA 类型的COC芯片的老化筛选；
2、LD Chip 可靠性验证；
3、LD Chip 失效分析；
4、LD Chip 寿命试验；
特点
1、每个抽屉的温度可独立控温，每个抽屉可独立加载驱动电流，可实现多温区，多品种，多过程老化 ；
2、增强型驱动电源，灵活支持 DFB/EML/Tunable COC ；
3、单层老化箱可独立使用，也可通过机架组合增加老化规模，灵活组合 ；
4、支持输出功率在线监测或LIV测试；
5、器件加电的EOS无过冲 ；
6、支持 N2 填充保护，支持气密型 LD COC 的老化 ；
7、鱼骨形夹具设计，兼容前端贴片，打线工艺，整个过程无需人工转料；
8、驱动电流高达 500mA，支持高功率激光器 COC 的老化 ；
9、完善的数据库，支持本地数据库以及远程服务器 SQL 数据库，实时记录老化过程中的数据，并支持数据曲线回看 ；
10、支持客户 MES 系统 ；
11、系统可选配离子风机，保证操作过程中的 ESD 安全 ；
12、系统选配 UPS，防止工厂意外断电 ；
13、设备采用模块化集成设计，方便升级和维护；
14、系统自锁结构，上电后自锁，防止员工意外热插拔 ；
15、特殊设计的 COC 收光装置，支持在线芯片波长测试，方便温度校准与验证。
规格
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