蒙自数据通信VCSEL晶圆测试
普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
类别：
蒙自晶圆测试
产品描述
应用
1、光通信等应用的VCSEL芯片测试；
2、小功率面发射芯片的验证测试；
特点
1、集成自制LIV综合测试仪，小电流挡位精度高，支持LIV测试；
2、积分球同步收光，支持 LIV 测试和光谱测试；
3、探针臂，针压可调，最小调到1g，压力稳定性在±0.1g以内，探针安装带限位功能；
4、支持晶圆位置识别和自动调整；
5、测试载台采用高导热材料，TEC温控，温度范围可支持25~85°C；
6、支持快速光谱测试；
7、软件支持精确定位图、坐标数据生成，数据库自动存储数据及图片；
规格
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