和田EML集成式老化系统
普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。
类别：
和田光器件可靠性
产品描述
应用
1、批量生产环节中 EML TO 器件进行老化筛选
2、长时间可靠性失效测试分析
特点
1、硬件支持 SOA 供电，完美兼容带 PD 或 SOA 的 EML 激光器
2、支持 Im 扫描计算 Ith
3、每块老化板可配置不同参数进行老化
4、老化板支持在线记录功能
5、完善的 EOS 防护，保证器件老化期间安全
6、高密度，低功耗
7、支持热插拔保护
8、老化板插拔次数监控记录
9、设备运行状态监控记录
10、老化箱 150℃高温环境老化（PSS EMLBI21536）
规格
