PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD提供驱动电源，以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数：阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、正向电压等。并在本机显示相关参数，以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等，也可以外接示波器显示相关波形。
普赛斯的探测器耦合测试仪（PSS RCML20192），用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)两种类型的各种脚位顺序ROSA/BOSA器件的耦合生产与测试。本仪器自带光衰模块，可实现快速衰减，同时内置输出监视的高精度光功率计，在衰减的同时可以实时监控输出端口的光功率。且支持外置光模块接口，可外接不同波长模块，为生产ROSA/BOSA器件提供不同耦合光源需求提供便利。 设备内置稳定的APD高压源、恒流源、显示模组、回损测试等功能模块。
普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
普赛斯高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。