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普赛斯COB老化系统主要应用于可见光COB模组的老化筛选和寿命验证的系统，配置16个独立的老化抽屉单元，每个抽屉设置独立的水冷控制模块，可支持256PCS激光模组老化。系统采用定制的加电夹具，可支持不同封装COB激光器的老化。
普赛斯 抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841），常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯。
LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。