普赛斯常高温薄膜铌酸锂自动测试机(PSS CHIP-LiNbO3)用于 LiNbO3 芯片耦合测试，可支持热电阻、热调功率、半波电压、光谱等光电特性测 试。单测试系统单载台，载台温控：25~85℃。全自动上下料。向用户开 放测量数据，用于后续筛分工序。
普赛斯 COS自动测试系统（PSS COST22401）支持 COS 封装形式的 CW-DFB 激光器芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试，支持 us 级直流/脉冲的输出与测试，该系统采用双工位测试、机械手全自动上下料。 该系统具有高集成度、 高效率、 高稳定性、维护操作简单的特点。
普赛斯大功率抽屉式 COC（PSS LRS23841） 老化系统，常用于大功率 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯
PSS LCR14021是一款桌面式高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持千兆以太网，RS232、RS422等通信接口。