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BAR条测试机

BAR条测试机，覆盖光通、可见光等消费电子、激光雷达等应用领域的BAR条测试，支持各种类型BAR，包含光通DFB/EML/SOA-EML等、各类大电流、窄脉冲条件的测试，测试功能全面，包含LIV、光谱、发散角、偏振等测试项，测试效率高；
BAR条测试机
单温载台（四针）芯片测试机

PSS BarT-HP-ns系列

单温载台（四针）芯片测试机

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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双温载台（四针）芯片测试机

PSS BarT-HP-ns系列

双温载台（四针）芯片测试机

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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选配发散角测试

PSS BarT-HP-ns系列

选配发散角测试

100ns窄脉冲测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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单温载台（单针）芯片测试机

PSS BarT-HP-us系列

单温载台（单针）芯片测试机

兼容DC、Pulse加电

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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双温载台（单针）芯片测试机

PSS BarT-HP-us系列

双温载台（单针）芯片测试机

兼容DC、Pulse加电

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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选配发散角测试

PSS BarT-HP-us系列

选配发散角测试

兼容DC、Pulse加电

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

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