- 应用
- 特点
- 规格
- 下载
-
产品应用
• 设备用于裸chip自动测试分bin，可以实现低温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试
-
产品特点
• 支持Chip的LIV、光谱相关参数的测试、绘制测试曲线
• 芯片蓝膜自动上料，通过视觉系统自动识别芯片ID，测试台支持芯片在相机下自动二次定位，精准控制探针加电测试
• 探针自动下压加电，探针下压力度可调，支持探针力度实时显示
• 低温测试台，温度TEC温控，稳定性好，温控范围+25 ℃ ~ -45 ℃，精度±0.4 ℃
• 舱体密封，氮气或干燥空气置换实现低露点环境，防静电手套操作物料，传送舱传输物料
• 生产过程中的异常情况均有报警提示及纠错提示功能
• 与chip接触的材料采用防静电材料，并接地处理，配有静电消除离子风机
• 支持本地和远程数据库
• 多维度可调测量结构，满足用户对不同规格chip测量需求
• 可用标准TO及芯片进行校准，并对其他工艺参数进行设置
• 针对生产过程中的重要环节均有实时动态提示
• 软件支持本地和远程数据库 -
参 数
指 标
适合芯片尺寸
芯片长度200-300μm；芯片宽度150-300μm
其他尺寸可定制测试载台
供料尺寸
6寸蓝膜环，下料区有4个蓝膜环放置位，具备自动分bin功能
测试载台
低温测试台，实现上料、位置校准与测试并行
测量参数
LIV曲线，Ith，Po，Vf，Im，Rs，SE，Kink，光谱参数等
LD驱动电流
范围0-250mA，最大可定制到500mA，支持脉冲输出
正向电压测试
范围0-5V
光功率测试
测试范围0-30mW；波长范围900-1700nm（以光谱仪为准）
温度控制
低温:-40C（25~-40可调）
稳定性≤ ±1℃
测试效率（典型值）
单颗≤6s（单光谱点测试，AQ6360D）
电源
AC 220V/32A 50Hz
关键词：