+
  • 产品06.jpg

小功率TO 集成式老化系统

所属分类:


普赛斯LD集成式老化设备,用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析,筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072路器件的老化,通过给LD器件提供恒定电流来实现对器件的老化,系统可实时显示老化电流、正向电压、背光电流、温度、功率等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司其他自动化设备。


  • 应用
  • 特点
  • 规格
  • 下载
    • 商品名称: 小功率TO 集成式老化系统
    • 型号: PSS LDBI3072-TO56-P
    • 描述: 箱体控温,支持TO56封装

    普赛斯LD集成式老化设备,用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析,筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072路器件的老化,通过给LD器件提供恒定电流来实现对器件的老化,系统可实时显示老化电流、正向电压、背光电流、温度、功率等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司其他自动化设备。

    产品应用

    • 可用于批量生产环节中可见光LD TO器件进行老化筛选
    • 长时间可靠性失效测试分析

     

     

     

  • 产品特点

    • 提供每块老化板完全独立的驱动电流
    • 集成式老化箱自带两个独立箱体,可完全独立控制,升温速度效率高,无过冲;支持过温保护
    • ACC恒流模式和APC恒背光模式可选
    • 老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料,提高生产效率;每个TO56插槽旁边安装一个NTC热敏电阻,可实时检测温度

     

     

    • 每一块老化板都可配置安装前光检测板,实时监控老化前光功率,并定时测试LIV特性

     

     

    • 支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全,支持开路和短路保护

     

     

    • 支持扫描LIV计算Ith

     

     

    • 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化,支持TO56固定3脚位切换

  • 参 数

    指 标

    激光器封装类型

    TO56,支持TO56固定3脚位切换

    系统规模

    3072路,2个独立温区

    LD驱动电流

    0-150mA,±0.5%rdg±2mA

    LD电压范围

    0~7V

    LD电压测量

    0~7V,±0.5%rdg±40mV

    背光电流检测

    0-2000uA,±0.5%rdg±10uA

    温度检测

    25~120℃,±1℃@60℃,10KNTC

    前光功率检测

    10~100mW,±0.5%rdg±0.5mW

    响应波长

    380-900 nm

    温度范围(仓内温度)

    45~90℃

    管壳温度测试范围

    65℃~100℃

    温控特性

    温度均匀性:±2℃(无负荷),温度稳定性:±0.5℃

    升温速度:2℃/Min,降温速度:1℃/Min

    电源输入

    三相五线AC 380V/50HZ

    尺寸(宽x高x深)

    1400 x 1800 x 1200(mm)