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BAR条自动测试系统

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BAR条自动测试系统

  • 商品描述: BAR条自动测试系统 (PSS BAR-II) 用途 用于BAR条(LD芯片)的光电性能检测。 功能 可测试长波长激光器BAR条的常温、高温条件下的...

BAR条自动测试系统
(PSS BAR-II)


用途

      用于BAR条(LD芯片)的光电性能检测。

功能

      可测试长波长激光器BAR条的常温、高温条件下的前光、背光和光谱参数。

特点

  1. 单台集成常温、高温工作台。分别用来检测BAR条常温性能和高温性能,高温夹具采用电加热(温度范围:室温~120℃),检测过程中始终保持加热状态,无需等待夹具升温和降温,节省时间;
  2. 全程自动上下料。由机械手臂上的真空吸盘来实现BAR条的装卸,避免手动上下料对BAR条的损伤;
  3. 上料自动归置BAR条位置,只需在指定区域内将BAR条任意放置(需注意正反面),BAR条整理台可将BAR条归置到上料点;
  4. 可同时检测BAR条前、背光的LIV性能,前光检测采用积分球,避免光反射对背光检测的干扰;
  5. 智能CCD镜头,自动识别BAR条位置,支持CHIP编码的识别,并且将不合格的晶元进行打点标记;
  6. 支持脉冲和直流驱动方式,脉冲驱动方式可有效减少CHIP发热带来的影响,测试精度更高;
  7. 单颗测试LIV和+光谱+Chip ID(ID OCR)识别总共时间<4s

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