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TO器件的盘测系统

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TO器件的盘测系统

  • 商品描述: TO器件的盘测系统 (PSS TOLD-P) 用途 TO-LD器件的自动测试,LIV综合测试、光谱测试。 功能 自动测试100颗【盘测】TO-LD器...

 
TO器件的盘测系统
(PSS TOLD-P)


用途

      TO-LD器件的自动测试,LIV综合测试、光谱测试。

功能

      自动测试100颗【盘测】TO-LD器件的性能特性,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。测试时通过弹簧测试针对测试点加电进行测试。

特点

  1. 支持TO-CAN封装激光器,提供多种管脚定义切换;
  2. 盘进盘出,提高生产精度和效率不中断;
  3. LIV综合测试时间1s,光谱测试时间小于10s(不同光谱仪测试时间不一样);
  4. 可以与TO-LD老化设备配套使用,可实现APD探测器的TO器件性能测试,提高生产效率;
  5. 可搭配光谱仪测试波长、边模抑制比等光谱特性。

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                                                                          PSS TOLD-P
 
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                                                                       PSS TOLD-P软件界面图
 
 


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