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25G/100G的LD器件老化测试系统

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25G/100G的LD器件老化测试系统

  • 商品描述: 25G/100G的LD器件老化测试系统 (PSS LDBI-1) 用途 给25G或100G的LD器件提供老化驱动电源,检测老化过程中的器件性能。 功能 ...

25G/100G的LD器件老化测试系统
(PSS LDBI-1)


用途

      给25G或100G的LD器件提供老化驱动电源,检测老化过程中的器件性能。

功能

  1. 每一个老化电源与测试系统,可同时老化64只器件;
  2. 可对每一个被老化器件的LD加载可调恒压源的工作电压Vd,以及控制电压源Vb、PD的反偏电压,监控Id电流,以及背光电流;
  3. 可实现根据Vb来控制Id电流,实现对器件的保护作用。

特点

  1. 兼容多个单颗与多个并行LD器件的老化,支持64颗激光器同时老化;
  2. 系统老化驱动与检测控制,配合上位机查询系统工作状态,保存工作数据、实时上报监测参数,实时监控器件老化过程中的性能状态。

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                                                                        PSS LDBI-1
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                                                                    100G老化测试系统-LDBI_参数设置       
         
   
                                                               100G老化测试系统-LDBI_测试结果

                                  


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