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解决方案

EML器件耦合测试老化完整解决方案

 


1.1 EML器件耦合测试老化完整解决方案
 

EML器件耦合测试老化完整解决方案

1.2 方案介绍

普赛斯电子提供完整的EML器件耦合、测试、老化解决方案,EML器件PIV智能耦合电源(PSS PIV-EML),用于EML的TOSA器件耦合的驱动电源与在线监测;EML器件的LIV综合测试仪(PSS LIV-EML),专用于给EML的 TOSA器件的性能参数综合测试;EML器件老化测试系统(PSS EMLBI-1),用于EML器件的老化测试,过程监控。

1.3方案特点

1. 耦合电源支持TEC温度、热敏电阻值、阈值电流、驱动电流、光功率、背光电流、正向电压等参数实时检测显示
2.综合测试仪采用PID智能算法实现TEC温度快速可控,EA电压精度可调
3.老化方案支持单台设备携带32颗器件老化测试,可多台设备组网老化更多颗器件




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