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APD集成式老化系统单次最多支持3072颗APD器件的老化,支持PD恒压老化,温控稳定,监控数据进行失效及可靠性分析
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LD集成式老化系统单次最多支持3072颗LD器件的老化,兼容各种LD类型封装,温控稳定,监控数据进行失效以及可靠性分析
老化测试针对不同尺寸、封装TO设计,用于老化、测试时器件上料,可兼容普赛斯老化设备和测试设备使用
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