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COC产品生产老化监控与测试解决方案

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COC产品生产老化监控与测试解决方案

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方案框图

       普赛斯电子提供COC老化监控与测试解决方案,老化采用“抽屉式”方式,夹具采用Pogo Pin方式加电,上料方式容易操作,夹具容易维护,老化与测试系统只需要搬运夹具,不需要再次上下料,老化方式灵活可选,测试精度高,一致性好,适用于生产企业大批量老化、生产、测试COC、COF、BOX等封装的产品。

方案价值

1、极易操作:上料采用导向槽操作,对于小尺寸产品上料简单、容易、安全

2、独立的“抽屉式”:每个抽屉可适用于不同封装的产品,只需要更换底部夹具,抽屉式设计确保整体温度均匀性良好;

3、多种加热方式:支持抽屉TEC加热或电路板加热方式

4、异常电源保护:内置UPS,保证异常断电时客户chip的安全

5、数据库存储:外置电脑,一套软件监控一台设备,过程数据存储于本地或者服务器数据库

6、精准LIV测试:TEC精准控温下支持chip的LIV快速测试以及光谱测试

7、适用范围广:适用于COC、、COF、BOX等封装的老化测试

方案详情

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