您的位置:首页- 产品中心- 可靠性测试

PSS APDBI13001

/cn/info_438.aspx?itemid=211

普赛斯APD集成式老化系统(PSS APDBI13000)用于APD-TIA器件的老化,满足APD-TIA器件(PSS APDBI13001支持PD恒压老化)的可靠性评估和老化筛选的要求。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件,同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

资料下载

产品详情


  • 027-89908766 027- 86638669

  • pss@whprecise.com
  • 武汉东湖开发区 光谷大道308号 光谷动力绿色环保产业园 9栋4楼

微信公众号

Copyright © 2017 武汉普赛斯电子股份有限公司.鄂ICP备17029825号-1 All Rights Reserved. 公安机关备案号42011502000463