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普赛斯APD集成式老化系统(PSS APDBI13000)用于APD-TIA器件的老化,满足APD-TIA器件(PSS APDBI13001支持PD恒压老化)的可靠性评估和老化筛选的要求。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件,同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
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