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普赛斯LD集成式老化系统(PSS LDBI13002)用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达250mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
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