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老化监控测试系统

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LD老化炉监控系统

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       普赛斯PSS LD-BI1536-I   LD老化炉监控系统用于老化LD器件,提高LD器件的品质。该系统通过给LD器件提供恒流来达到对器件工作老化。同时可控制器件工作环境温度,达到高温下工作老化的功能。在老化过程中,对器件工作环境温度实时监控,同时对器件的驱动电流以及背光电流进行实时监控测试,并对测试数据进行记录,可对老化失效器件进行追述。最大老化量可对1536只器件同时进行老化。

产品特点

1.  提供0—250mA的老化电流,支持2.5G/10G LD的老化

2.  支持Im扫描计算Ith

3.  可配置LD输出过压保护

4.  两个独立老化箱体,可以独立配置老化不同的产品

5.  温度范围最大可达200℃

6.  内置UPS电源,意外断电保护

技术指标


参数

指标

独立温区数

2

温箱温度范围

40~200

温度精度

±2

升温过冲

3

长期温度稳定性

0.5

温度均匀性

3℃,空载时≤2

升温速度

100/半小时

降温速度

——

温度设置方式

设备触屏或按键与设备电脑程控

备用电源

系统自带 UPS 稳压电源

系统供电

AC 380/50Hz

满载老化量

1536Pcs 2*12*64

系统应用

TO-56 LD 老化测试

管脚定义支持

至少支持下图 1 中红色标识的 6 种封装

LD 驱动电流

0-250mA,±1%FS±1mA

PD 反偏电压

0~5V,±1% FS±0.2V

LD 正向电压

0.3V,±1% FS±0.2V

LD 监控电流

0~250mA,±1% FS±1mA

PD 监控电流

0~2000uA,±1% FS±5uA

LIV 扫描是否支持

支持 Im 扫描计算 Ith

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