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老化监控测试系统

资讯客服:027-89908766

25G/100G的LD器件老化测试系统

/cn/info_31.aspx?itemid=85

       给25G或100G的LD器件提供老化驱动电源,检测老化过程中的器件性能,每一个老化电源与测试系统,可同时老化64只器件。可对每一个被老化器件的LD加载可调恒压源的工作电压Vd,以及控制电压源Vb、PD的反偏电压,监控Id电流,以及背光电流。可实现根据Vb来控制Id电流,实现对器件的保护作用

产品特点

1、兼容多个单颗与多个并行LD器件的老化,支持64颗激光器同时老化

2、系统老化驱动与检测控制,配合上位机查询系统工作状态,保存工作数据、实时上报监测参数,实时监控器件老化过程中的性能状态。

技术指标


项目

功能

说明

支持路数

64Vd64Vb

初步制定路数

Vd电压

0~3.3V可设

最小步进0.1V,精度±1%±0.05V

Id电流监控

0~100ma,电流保护硬件方式120ma

采用精度±1%±0.5ma

Vb电压

0~2.5V可设,用来控制Id电流。保护电压可设,由软件配置。

最小步进0.1V,精度±1%±0.05V

mPD偏置电压可设

0~5V可设

最小步进0.2V,精度±1%±0.1V

Impd电流监控

0~2500ua,背光电流,共阳极

采用精度±1%±50ua

老化板温度监控

三个温度监控点

±0.5

板卡插入检测

高温线接头连接提示,LED灯(绿)提示

 

报警提示

异常报警,LED灯(红)提示

 

数据采集

单台独立使用最小采集间隔1分钟~最大采集间隔240分钟。

注意:系统轮训时间依赖于设备总数

 

数据记录

满足持续老化5000小时的数据存储要求

 

异常日志

发生异常时记录时间

 

保护

加电、下电缓慢启动,不低于1s时间,

注:客户如有特殊要求可以定制

 

通信接口、组网方式

以太网

 

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