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老化监控测试系统

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LD失效分析系统

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       LD失效分析仪适用于LD-TO、TOSA器件的长时间、大电流、高低温环境下的加速老化,实现对LD器件的可靠性与失效分析、预测器件使用寿命,规避隐形的重大质量事故,器件工作电流程序可控,不同电流、不同温度环境下的LD背光电流在不同时间点的实时检测,实时上报上位机或服务器,对器件可靠性、失效性进行分析。

产品特点

1、模拟模块工作模式老化:该设备可以设置成APC模式老化,模拟模块实际应用情况长期对器件进行恒功率老化,用于器件失效分析;

2、多种显示方式:支持脱离电脑主机的指示灯显示,数码管调节;也支持上位机软件显示;

3、器件防护:超严格的上下电时序设计,确保上下电过程不会对器件有软伤害;

技术指标


名称

说明

单台工位

40LD激光器

系统连接

RS485,最大支持20台设备

组网方式

RS485

供电方式

APC&ACC,独立供电工作

PD电压

0~5V±1%+10mV

LD电压保护

当最大电流150mA时,LD两端电压不超过2V

LD监控电流

0~150mA±1%+0.3mA,稳定性1%

PD监控电流

0~3000uA±1%+20uA,稳定性1%

数据采集

采集间隔1240分钟。

注意:系统轮询时间依赖于设备总数

数据记录

满足持续老化5000小时的数据存储要求

异常日志

发生异常时记录时间

保护

加电、下电缓慢启动,不低于200ms时间


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